Efect Recognition in Semiconductor Heterostructures on Bevelled Surface

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0204951
Název	Efect Recognition in Semiconductor Heterostructures on Bevelled Surface
Tvůrce(i)	Srnánek, R. (SK) Škriniarová, J. (SK) Kováč, J. (SK) Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Novotný, I. (SK) Hotový, I. (SK) Gottschalch, V. (DE)
Zdroj.dok.	Abstracts of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors DRIP VII. s. 10.8. - Berlin : Institute of Crystal Growth, 1997
Konference	DRIP /7./, Templin, 07.09.1997-10.09.1997
Druh dok.	Abstrakt
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	DE
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0100571

Počet záznamů: 1