Počet záznamů: 1  

Efect Recognition in Semiconductor Heterostructures on Bevelled Surface

    1.
    SYSNO ASEP0204951
    Druh ASEPA - Abstrakt
    Zařazení RIVZáznam nebyl označen do RIV
    Zařazení RIVNení vybrán druh dokumentu
    NázevEfect Recognition in Semiconductor Heterostructures on Bevelled Surface
    Tvůrce(i) Srnánek, R. (SK)
    Škriniarová, J. (SK)
    Kováč, J. (SK)
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Novotný, I. (SK)
    Hotový, I. (SK)
    Gottschalch, V. (DE)
    Zdroj.dok.Abstracts of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors DRIP VII. - Berlin : Institute of Crystal Growth, 1997
    s. 10.8
    AkceDRIP /7./
    Datum konání07.09.1997-10.09.1997
    Místo konáníTemplin
    ZeměDE - Německo
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.DE - Německo
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru1998

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše