Počet záznamů: 1
Efect Recognition in Semiconductor Heterostructures on Bevelled Surface
SYS 0204951 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20200403121510.9 101 0-
$a eng 102 $a DE 200 1-
$a Efect Recognition in Semiconductor Heterostructures on Bevelled Surface 463 -1
$1 200 1 $a Abstracts of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors DRIP VII $v s. 10.8 $1 210 $a Berlin $c Institute of Crystal Growth $d 1997 700 -1
$3 cav_un_auth*0020980 $a Srnánek $b R. $y SK $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0093903 $a Škriniarová $b J. $y SK $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0038429 $a Kováč $b J. $y SK $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0093671 $a Novotný $b I. $y SK $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0093900 $a Hotový $b I. $y SK $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0093904 $a Gottschalch $b V. $y DE $4 070
Počet záznamů: 1