Počet záznamů: 1  

Efect Recognition in Semiconductor Heterostructures on Bevelled Surface

  1. SYS0204951
    LBL
      
    00000nam^^22^^^^^^^^450
    005
      
    20200403121510.9
    101
    0-
    $a eng
    102
      
    $a DE
    200
    1-
    $a Efect Recognition in Semiconductor Heterostructures on Bevelled Surface
    463
    -1
    $1 200 1 $a Abstracts of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors DRIP VII $v s. 10.8 $1 210 $a Berlin $c Institute of Crystal Growth $d 1997
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0020980 $a Srnánek $b R. $y SK $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0093903 $a Škriniarová $b J. $y SK $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0038429 $a Kováč $b J. $y SK $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0093671 $a Novotný $b I. $y SK $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0093900 $a Hotový $b I. $y SK $4 070
    701
    -1
    $3 cav_un_auth*0093904 $a Gottschalch $b V. $y DE $4 070

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.