Počet záznamů: 1
Coupled Electromagnetic-Thermal Analysis of Selected Power Semiconductor Devices
- 1.
SYSNO 0195546 Název Coupled Electromagnetic-Thermal Analysis of Selected Power Semiconductor Devices Tvůrce(i) Doležel, Ivo (UE-C)
Barglik, J. (PL)
Ulrych, B. (CZ)
Valouch, Viktor (UE-C)Zdroj.dok. Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits. s. 211-214. - Poznaň : PTETiS Publishers, 2002 Konference Symposium Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits /17./, Leuven, 01.07.2002-03.07.2002 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant GA102/01/0182 GA ČR - Grantová agentura ČR Jazyk dok. eng Země vyd. PL Klíč.slova Coupled electromagnetic-thermal analysis * power semiconductor devices Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0091212
Počet záznamů: 1