Počet záznamů: 1  

Characterization of polymeric films by ellipsometry

    1.
    SYSNO0185043
    NázevCharacterization of polymeric films by ellipsometry
    Tvůrce(i) Švorčík, V. (CZ)
    Tichá, H. (CZ)
    Rybka, V. (CZ)
    Hnatowicz, Vladimír (UJF-V) RID
    Zdroj.dok. Journal of Materials Science Letters. Roč. 19, - (2000), s. 679-681
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    CEZAV0Z1048901 - UJF-V
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.DE
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0081465
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše