Počet záznamů: 1
Stability of the inelastic mean free paths determined by elastic peak electron spectroscopy in nickel and silicon
- 1.
SYSNO ASEP 0134659 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Stability of the inelastic mean free paths determined by elastic peak electron spectroscopy in nickel and silicon Tvůrce(i) Jiříček, Petr (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Zemek, Josef (FZU-D) RID, ORCID
Lejček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Lesiak, B. (PL)
Jablonski, A. (PL)
Čerňanský, Marian (FZU-D) RIDZdroj.dok. Journal of Vacuum Science & Technology A : Vacuum, Surfaces and Films. - : AIP Publishing - ISSN 0734-2101
Roč. 20, č. 2 (2002), s. 447-455Poč.str. 9 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova Monte Carlo simulation ; electron-solid interaction ; inelastic mean free path(IMFP) ; elastic peak electron spectroscopy(EPES) Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GA202/02/0237 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Anotace The scatter between the measured IMFPs obtained in the present work and predictive formulas IMFP values is determined. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2004
Počet záznamů: 1