Počet záznamů: 1
X-ray emission from thin films on a substrate - Calculation and experiments
- 1.
SYSNO ASEP 0134314 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název X-ray emission from thin films on a substrate - Calculation and experiments Tvůrce(i) Starý, V. (CZ)
Jurek, Karel (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Microchimica Acta. - : Springer - ISSN 0026-3672
Roč. 139, - (2002), s. 179-184Poč.str. 6 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. AT - Rakousko Klíč. slova Monte Carlo simulation ; electron microanalysis ; X-ray emission ; thin films Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEZ AV0Z1010914 - FZU-D MSM 210000021 Anotace In Monte Carlo code the single crystal scattering model is employed for simulation of X-ray emission from thin films of Au on the Si substrate. The electron beam energy was in the range 10-30keV. These data were compared with experimental values of k-ratios calculated from X-ray intensities of Au M and Au L characteristic lines. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2004
Počet záznamů: 1