Počet záznamů: 1
Optical properties of amorphous and microcrystalline silicon layers
- 1.
SYSNO ASEP 0133464 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Optical properties of amorphous and microcrystalline silicon layers Tvůrce(i) Vaněček, Milan (FZU-D) RID
Poruba, Aleš (FZU-D) RIDISBN 0-7923-6811-8 Zdroj.dok. Properties and Applications of Amourphous Materials, Fundamental Properties of Nanosystems.. - Dordrecht : Kluwer Academic publishers, 2001 / Thorpe M. F. ; Tichý L. Rozsah stran s. 401-432 Poč.str. 32 s. Akce Properties and Applications of Amorphous Materials. Datum konání 25.06.2000-07.07.2000 Místo konání Seč Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova amorphous silicon ; nano/microcrystalline silicon ; optical constants Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GA202/99/0403 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Anotace With the help of optical spectroscopy we can measure(calculate) the optical constants of amorphous silicon (and similarly produced nano/microcrystalline Si). Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2002
Počet záznamů: 1