Počet záznamů: 1
Electron spin resonance and optical characterization of defects in microcrystalline silicon
- 1.
SYSNO 0132675 Název Electron spin resonance and optical characterization of defects in microcrystalline silicon Tvůrce(i) Vaněček, Milan (FZU-D) RID
Poruba, Aleš (FZU-D) RID
Remeš, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID
Rosa, Jan (FZU-D) RID
Kamba, Stanislav (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Vorlíček, Vladimír (FZU-D) RID
Meier, J. (CH)
Shah, A. (CH)Zdroj.dok. Journal of Non-Crystalline Solids. 266-269, - (2000), s. 519-523. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant OK 268 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy 4.BPEUJOR3-CT970145, XC CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Jazyk dok. eng Země vyd. NL Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0030682
Počet záznamů: 1