Počet záznamů: 1  

Lifetime on carriers and seebeck coefficient in semiconductors

  1. 1.
    SYSNO ASEP0105958
    Druh ASEPK - Konferenční příspěvek (lokální konf.)
    Zařazení RIVStať ve sborníku
    NázevLifetime on carriers and seebeck coefficient in semiconductors
    Překlad názvuDoba života nosičů náboje a Seebeckův koeficient v polovodičích
    Tvůrce(i) Vacková, S. (CZ)
    Gorodynskyy, Vladyslav (URE-Y)
    Žďánský, Karel (URE-Y)
    Vacek, K. (CZ)
    Kozak, Halina (URE-Y)
    Zdroj.dok.Proceedings of WORKSHOP 2004, A. - Prague : Czech Technical University, 2004 - ISBN 80-01-02945-X
    s. 122-123
    Poč.str.2 s.
    Forma vydáníWWW - WWW
    AkceWorkshop 2004
    Datum konání22.03.2004-26.03.2004
    Místo konáníPraha
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceCST
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovaphotoconductivity ; carrier lifetime ; Seebeck effect
    Vědní obor RIVJB - Senzory, čidla, měření a regulace
    CEPIBS2067354 GA AV ČR - Akademie věd
    KSK1010104 GA AV ČR - Akademie věd
    AnotaceThe lifetime of carriers represents an important parameter of radiation detectors which is characteristic for them. Usually the current experimental technique for their measurement makes use of different experimental methods, as photoconductivity. Very often the product of mobility and lifetime is introduced as a criterion for the semiconductor suitability of radiation detection.
    PracovištěÚstav fotoniky a elektroniky
    KontaktPetr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488
    Rok sběru2005
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.