Počet záznamů: 1  

Growth kinetics of thick InP layers

  1. 1.
    SYSNO ASEP0105913
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevGrowth kinetics of thick InP layers
    Překlad názvuKinetika růstu tlustých vrstev InP
    Tvůrce(i) Šrobár, Fedor (URE-Y)
    Procházková, Olga (URE-Y)
    Zdroj.dok.ASDAM'2004. Proceedings of the Fifth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. - Piscataway : IEEE, 2004 / Osvald J. ; Haščík Š. - ISBN 0-7803-8535-7
    Rozsah strans. 65-69
    Poč.str.4 s.
    AkceAdvanced Semiconductor Devices and Microsystems - ASDAM'04 /5./
    Datum konání17.10.2004-21.10.2004
    Místo konáníSmolenice
    ZeměSK - Slovensko
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaepitaxial growth ; epitaxial layers ; nonlinear systems
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPGA102/03/0379 GA ČR - Grantová agentura ČR
    KSK1010104 GA AV ČR - Akademie věd
    AnotaceApplicability of the Burton-Cabrera-Frank model of crystal growth is limited in the case of LPE preparation of thick semiconductor layers due to volume diffusion of constituent atoms. This phenomenon can be accounted for by introducing negative growth-rate dependent correction to supersaturation. The resulting implicit nonlinear problem is solved using the technique of causal diagrams. Theoretical predictions are confronted with experimental data on the growth of thick InP and InP:Nd layers.
    PracovištěÚstav fotoniky a elektroniky
    KontaktPetr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488
    Rok sběru2005
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.