Počet záznamů: 1  

Height profile measurement by means of white light interferometry

  1. 1.
    Pavlíček, P. Height profile measurement by means of white light interferometry. In: ZAJAC, M., MASAJADA, J., eds. Wave and Qantum Aspects of Contemporary Optics. Washington: SPIE The International Society for Optical Engineering, 2003, s. 139-144. SPIE - The International Society for Optical Engineering., 5259. ISBN 0-8194-5146-0. ISSN 0277-786X.

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.