Signal Processing of Secondary Electron Images in SEM

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0092205
Název	Signal Processing of Secondary Electron Images in SEM
Překlad názvu	Článek charakterizuje způsoby zavedení rastrovací verze LEEM do konvenčního SEM prostřednictvím vložení katodové čočky pod objektiv přístroje. Shrnuty jsou základní vlastnosti rastrovacího LEEMu
Tvůrce(i)	Novák, Libor (UPT-D) Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy. S. 99-100. - Prague : Czechoslovak Microscopy Society, 2007 / Nebesářová Jana ; Hozák Pavel
Konference	Multinational Congress on Microscopy /8./, Prague, 17.06.2007-21.06.2007
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	GA102/05/2327 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	signal processing * secondary electron images * SEM
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0152591

Počet záznamů: 1