Počet záznamů: 1
Signal Processing of Secondary Electron Images in SEM
SYS 0092205 LBL 01942^^^^^2200289^^^450 005 20240103185007.6 100 $a 20080307d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a CZ 200 1-
$a Signal Processing of Secondary Electron Images in SEM 215 $a 2 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0092587 $1 010 $a 978-80-239-9397-4 $1 200 1 $a Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy $v S. 99-100 $1 210 $a Prague $c Czechoslovak Microscopy Society $d 2007 $1 702 1 $a Nebesářová $b Jana $4 340 $1 702 1 $a Hozák $b Pavel $4 340 541 1-
$a Článek charakterizuje způsoby zavedení rastrovací verze LEEM do konvenčního SEM prostřednictvím vložení katodové čočky pod objektiv přístroje. Shrnuty jsou základní vlastnosti rastrovacího LEEMu $z cze 610 0-
$a signal processing 610 0-
$a secondary electron images 610 0-
$a SEM 700 -1
$3 cav_un_auth*0052205 $a Novák $b Libor $p UPT-D $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0101598 $a Müllerová $b Ilona $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1