Počet záznamů: 1  

Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope

  1. 1.
    SYSNO ASEP0050937
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevAcquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons in the Scanning Low Energy Electron Microscope
    Překlad názvuSnímání úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů v rastrovacím nízkoenergiovém elektronovém mikroskopu
    Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok.6th Japanese-Polish Joint Seminar on Materials Analysis. - Toyama : University of Toyama, 2006 - ISBN 4-9903248-0-3
    Rozsah strans. 13-14
    Poč.str.2 s.
    AkceJapanese-Polish Joint Seminar on Materials Analysis /6./
    Datum konání11.09.2006-13.09.2006
    Místo konáníToyama
    ZeměJP - Japonsko
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.JP - Japonsko
    Klíč. slovaSLEEM ; cathode lens ; multichannel detector ; angular distribution ; BSE detection
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPGA102/05/2327 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    AnotaceNew eight-channel detector for acquisition of the angular distribution of backscattered electrons has been designed and tested. The detector is based on a multi-channel plate followed by eight concentric circular collectors centred to the optical axis. High collection efficiency and high amplification of the detector down to 100 eV of emission energy is secured by action of the cathode lens. In first experiments the detector has proved itself useful for imaging of polycrystalline structures.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2007
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.