0310151 - ÚMCH 2008 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Toušek, J. - Pavlačková, Petra - Cimrová, Věra - Toušková, J.
Characterization of fluorene – thiophene copolymer layers by the surface photovoltage method.
[Charakterizace vrstev fluoren-thiofenového kopolymeru metodou měření povrchového fotonapětí.]
Macromolecular Symposia. Roč. 268, č. 1 (2008), s. 96-99. ISSN 1022-1360.
[Microsymposium on Advanced Polymer Materials for Photonics and Electronics /47./. Prague, 15.07.2007-19.07.2007]
Grant CEP: GA AV ČR IAA4050409; GA MŠMT(CZ) 1M06031
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40500505
Klíčová slova: conjugated polymers * diffusion length * fluorene-thiophene * surface photovoltage * thin films
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

The surface photovoltage method was used for the study of thin polymer layers made of poly{(9,9-dihexylfluorene-2,7-diyl)[-3-(3-methylbutyl)thiophene-2,5-diyl]} prepared by spin-coating on ITO coated glass substrates. Photovoltaic spectra were measured under illumination both the free surface (SPVfs) and the substrate (SPVITO) side and for various layer thicknesses. The shape of the SPVITO spectrum is very similar to that of the absorption spectrum, whereas the SPVfs spectrum maximum is shifted to longer wavelengths. Fitting theory to the experimental data, the thickness of the space charge region and the diffusion lengths were evaluated. The results are discussed also in relation to photoluminescence study of thin films.

Metoda měření povrchového fotonapětí (SPV) byla použita pro studium tenkých vrstev poly{(9,9-dihexylfluoren-2,7-diyl)[-3-(3-methylbutyl)thiofen-2,5-diylu]}připravených rotačním nanášením na ITO podložky. Fotovoltaická spektra byla měřena při osvětlení ze strany volného povrchu (SPVfs) a pro osvětlení ze strany podložky (SPVITO) pro různé tloušťky polymerní vrstvy. Tvar fotovoltaického spektra SPVITO odpovídal průběhu absorpčního spektra zatímco při osvětlení z oblasti volného povrchu byl ve fotovoltaickém spektru SPVfs pozorován posun maxima k delším vlnovým délkám. Na základě analýzy fotovoltaických spekter byla tloušťka oblasti prostorového náboje a určena hodnota difúzní délky. Výsledky měření fotonapětí jsou korelovány s výsledky studia fotoluminiscence.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0162095