0132048 - FZU-D 980258 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Vorlíček, Vladimír - Železný, Vladimír - Tiwari, A. N. - Krejci, M. - Zogg, H.
Determination of the crystallographic orientation of CuInSe2 thin films by Raman and infrared spectroscopy.
Journal of Applied Physics. Roč. 82, - (1997), s. 5484-5487. ISSN 0021-8979. E-ISSN 1089-7550
Impakt faktor: 1.630, rok: 1997
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030088