0105578 - UJF-V 20043120 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Wágner, T. - Krbal, M. - Gutwirth, J. - Němec, P. - Vlček, M. - Frumar, M. - Peřina, Vratislav - Macková, Anna - Hnatowicz, Vladimír - Kasap, S. O.
Characterization of Ag-As-S and Ag-Sb-S amorphous films prepared by pulsed laser deposition.
[Characterizace Ag-As-S a Ag-Sb-S amorfních vrstev připravených pomocí pulsní laserové depozice.]
Surface and Interface Analysis. Roč. 36, č. 8 (2004), s. 1140-1143. ISSN 0142-2421. E-ISSN 1096-9918
Grant CEP: GA ČR GA203/02/0087
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1048901
Klíčová slova: chalcogenide glasses * thin films * pulsed laser ablation
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Impakt faktor: 1.209, rok: 2004

Thin amorphous films of Ag-As-S and Ag-Sb-S systems have been prepared by pulsed laser deposition (PLD) at five different conditions, i.e. at different pulse energies and pulse repetition intervals of the KrF laser. The obtained films were analysed by RBS, ERDA (elastic recoil detection analysis) spectral analysis and also EDXA elemental analysis. The results of RBS and EDXA analysis were compared to the composition of the source bulk glass materials. Film compositions varied compared to the source material according to the deposition condition with film composition close to the stoichiometric one, i.e. AgAsS2 and AgSbS2 could be prepared by the PLD technique. RBS spectroscopy is known as an important tool for establishing depth distribution of the elements within the prepared films. The thickness of the films was chosen so that depth profiling of the entire layer is possible. ERDA allowed us to find, apart from all obvious atoms (Ag, As, Sb, S), also H atoms present in the films. The structure of the films has been studied by Raman spectroscopy as well. Vibration bands characteristic of As(Sb)S-2-Ag-As(Sb)S-2 structural units present in prepared films have been observed. The films are potentially applicable for optical memories (e.g. digital video discs).

Tenké amorfní vrstvy systémů Ag-As-S a Ag-Sb-S byly připraveny pulsní laserovou depozicí (PLD) ze pěti různých podmínek KrF laseru, tj. energií pulsů a opakovacích frekvencí. Připravené vrstvy byly analyzovány pomocí RBS, ERDA a EDXA metod prvkových analýz. Jejich výsledky byly srovnány se složením výchozích materiálů. Složení se měnila ve srovnání s výchozími materiály v souhlase s depozičními podmínkami blízko stechiometrickým poměrům. To znamená že vrstvy AgAsS2 a AgSbS2 mohou být připraveny pomocí PLD. RBS metoda je jedinečná ke stanovení hloubkového rozložení prvků v připravených vrstvách. Tloštka vrstev byla zvolena s ohledem na možnost zjištění prvkových profilů v celé vrstvě. ERDA navíc ke stavebním prvkům (Ag, As, Sb, S) umožňuje sledování obsahu vodíku. Struktura vrstev byla též sledována pomocí Ramanovské spektroskopie. Byly pozorovány vibrační pásy charakterizující As(Sb)S-2-Ag-As(Sb)S-2 stavební jednotky. Očekáváme aplikaci vrstev pro optické paměti (digitální video disky).
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0012815