Sestava elektrického obvodu symetrického a asymetrického buzení iontové pasti

0580392 - ÚPT 2024 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Číp, Ondřej - Jedlička, Petr - Čížek, Martin - Pham, Minh Tuan
Sestava elektrického obvodu symetrického a asymetrického buzení iontové pasti.
[Electric circuit assembly of the symmetric and asymmetric excitation of an ion trap.]
2023. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 31.05.2023. Číslo vzoru: 37086
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Micromotion * symmetric excitation * asymmetric excitation * ion trap * radiofrequency drive
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
https://isdv.upv.gov.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0037/uv037086.pdf

Mikropohyb zachycených iontů vnáší do kvantového systému významné perturbace. Hlavní účinky jsou Dopplerův posuv a Starkův posuv druhého řádu. Sestava elektrického obvodu symetrického a asymetrického buzení iontové pasti zahrnuje technické řešení sestavy elektrického buzení iontové pasti, pomocí které je možné provádět experimenty za účelem maximální možné eliminace mikropohybů iontů nebo atomů Coulombova krystalu v iontové pasti, zvláště pohybů v její ose z, tedy v podélné ose.

The micromotion of trapped ions introduces significant perturbations into the quantum system. The main effects are Doppler shift and the second-order Stark shift. The assembly of the electrical circuit of the symmetric and asymmetric excitation of the ion trap includes the technical solution of the assembly of the electrical excitation of the ion trap, with the help of which it is possible to carry out experiments in order to eliminate as much as possible micro-movements of ions or atoms of the Coulomb crystal in the ion trap, especially movements in its z-axis, i.e. in the longitudinal axis.
Trvalý link: https://hdl.handle.net/11104/0349168