Zařízení pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury

0520593 - ÚTAM 2021 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Vavřík, Daniel
Zařízení pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury.
[Device for non-destructive examination of a layered structure.]
2019. Vlastník: Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 30.12.2019. Číslo vzoru: 33590
Grant CEP: GA MK(CZ) DG18P02OVV006
Klíčová slova: stratigraphy * in-situ X-ray methods
Obor OECD: Materials engineering
https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0033/uv033590.pdf

RTG profilometr je určen pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury ležící na substrátu. Zkoumaný objekt je ozařován rovinným a ostrým RTG svazkem , který dopadá na povrch pod velmi ostrým úhlem. Rozptýlené a fluorescenční fotony jsou zaznamenávány dirkovou kamerou osazenou polovodičovým pixelovým detektorem. Tloušťky vrstev jsou měřeny s mikrometrickou přesností díky analýze signálu, vzniklého na ostré hraně RTG svazku. Zařízení je primárně určeno pro zkoumání polychromie středověkých deskových maleb, může být ale využito i obecněji.

RTG profilometer targets the inspection of a layered structure deposited onto a massive substrate. The investigated object is irradiated by a planar, sharp X-ray beam passing over the surface at an acute angle. The scattered and XRF photons are recorded by a pinhole camera equipped with a semiconductor pixelated detector. Measurement of the layer thicknesses with micrometric precision is obtained by analyzing changes in the signal produced at the sharp edge of the X-ray beam. The device primarily targets the investigation of medieval wooden panel paintings based on polychromy but it can more general.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0305470