Spektrometr pozorovací komory rastrovacího elektronového mikroskopu a rastrovací elektronový mikroskop s pozorovací komorou tento spektrometr obsahující

0517631 - ÚPT 2020 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Mika, Filip - Dupák, Libor - Pokorná, Zuzana
Spektrometr pozorovací komory rastrovacího elektronového mikroskopu a rastrovací elektronový mikroskop s pozorovací komorou tento spektrometr obsahující.
[Scanning electron microscope observation spectrometer and scanning electron microscope with the observation chamber.]
2019. Vlastník: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 26.11.2019. Číslo vzoru: 33419
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: secondary electron * energy filtering * toroidal analyser
Obor OECD: Coating and films
https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm

Řešení pro energiově filtrované zobrazování v sekundárních elektronech, které může být využito v libovolném rastrovacím elektronovém mikroskopu s dostatečným prostorem pro rozměrné vzorky.

Solution for energy-filtered imaging in secondary electrons that can be used in any scanning electron microscope with a large enough space for tall samples.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302936