Možnosti zobrazení a analýzy v rastrovacím elektronovém mikroskopu s vysokým rozlišením.

0481759 - ÚPT 2018 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Mika, Filip - Paták, Aleš - Pokorná, Zuzana
Možnosti zobrazení a analýzy v rastrovacím elektronovém mikroskopu s vysokým rozlišením.
[Imaging and analysis with high resolution scanning electron microscope.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 62, č. 10 (2017), s. 245-247. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscopy * display and analysis capabilities
Obor OECD: Particles and field physics

Laboratoře Ústavu přístrojové techniky Akademie věd České republiky (ÚPT) v Brně jsou vybaveny špičkovými rastrovacími elektronovými mikroskopy, které umožnují studovat širokou škálu vzorků z oblasti materiálových i biologických věd. Jedním z nich je mikroskop Magellan 400L, který nabízí rozlišení pod 1nm v širokém rozmezí dopadových energii od stovek až po desítky tisíc elektronvoltů a množství analytických technik. Slouží nejen vědcům z ÚPT k základnímu i aplikovanému výzkumu, ale také kolegům z ostatních ústavů, vysokých škol a průmyslu.

The Laboratories of Institute of Scientific Instruments of the Academy of Sciences of the Czech Republic (ISI) are equipped with cutting-edge scanning electron microscopes that allow studying a wide range of materials science and biological samples. One of these is the Magellan 400L which offers a resolution of less than 1 nm and a wide range of incident electron energies from hundreds of electron Volts to tens of thousands, as well as a number of complementary analytical techniques. The microscope serves for basic and applied research not only to scientists from the ISI, but also to colleagues from other institutes, universities and industry.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277315