Souhrnný report výsledků smluvního výzkumu mezi FZU AV ČR, v.v. i. a HVM Plasma s.r.o. za rok 2016

0471851 - FZÚ 2017 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Mates, Tomáš - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Vetushka, Aliaksi - Pikna, Peter - Bauerová, Pavla
Souhrnný report výsledků smluvního výzkumu mezi FZU AV ČR, v.v. i. a HVM Plasma s.r.o. za rok 2016.
[Summary report of results of the contract research between FZU AV ČR, v.v. i. and HVM Plasma s.r.o. for 2016.]
Praha: HVM Plasma, s.r.o, Praha 5, 2017. 60 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: diamond like carbon layers * Raman spectroscopy * Atomic Force Microscopy * Scanning Electron Microscopy * Focussed Ion Beam * Energy Dispersive Spectroscopy
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Několika diagnostickými metodami byly zkoumány vzorky ochranných vrstev na bázi DLC (Diamond-like-Carbon) na různých substrátech (testovací tělíska i reálné součástky). Pomocí Ramanovské spektroskopie byly vyhodnocovány vazby ve vzorcích pro bližší určení strukturních variací a povrchových modifikací, a to jak pro čerstvě připravené vzorky, tak zejména pro vzorky které prošly různými zátěžovými testy.
Skenovacím elektronovým mikroskopem (SEM) byla zkoumána povrchová struktura vrstev v různých místech vzorků a vyhledávána vhodná testovací místa pro následnou analýzu pomocí Mikroskopu atomárních sil (AFM). Mikroskopem AFM ve speciálních režimech byly měřeny mapy lokálních mechanických vlastností (tření, adheze hrotu, disipace energie, atd.). Na vybraném vzorku byla metodou Focussed Ion Beam (FIB) analyzována struktura průřezu vzorku a dále bylo zdokumentováno prvkové složení v různých tloušťkách vrstvy metodou Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).


Samples of protective layers based on DLC (Diamond-like-Carbon) on different substrates (test bodies and real components) were studied by several diagnostic methods.
Raman spectroscopy was used for the detection of bindings in order to specify the structural variations, surface modifications both for as-deposited samples and particularly for samples that underwent different stress tests.
Scanning Electron Microscope (SEM) was used to examine the surface structure of layers in different locations on the sample and to search suitable test spots for the subsequent analysis by the Atomic Force Microscope (AFM). AFM in special modes was employed to measure the maps local mechanical properties (friction, tip adhesion, energy dissipation, etc.).
On a selected sample, the cross-sectional structure of the sample was analysed by the Focussed Ion Beam (FIB) and the elemental composition in various thicknesses was documented by the Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).

Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0269213