Interferometrické zařízení pro měření odchylek tvaru optických prvků

0469393 - ÚFP 2017 RIV cze P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Psota, Pavel - Peca, M. - Lédl, Vít - Burianec, R. - Čelechovská, L.
Interferometrické zařízení pro měření odchylek tvaru optických prvků.
[Interferometric device for measuring deviations of form of optical elements.]
2016. Vlastník: Ústav fyziky plazmatu AV ČR, v. v. i. Datum udělení vzoru: 13.12.2016. Číslo vzoru: 30152
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TA03010893
Institucionální podpora: RVO:61389021
Klíčová slova: interferometry * aspherical surfaces * multiwavelength * optical elements
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
https://isdv.upv.cz/webapp/webapp.pts.det?xprim=10243589&lan=cs&s_majs=%C3%9Astav%20fyziky%20plazmatu&s_puvo=&s_naze=&s_anot=

Výsledek užitný vzor představuje zařízení pro přesné měření odchylek tvaru leštěných asférických, sférických a rovinných optických elementů od jejich nominální hodnoty. Zařízení je z interferometr využívající mnoha vlnových délek světla. Tak lze dosáhnout výrazného zvýšení dynamického rozsahu měřidla, a proto lze použít interferometr i pro měření asférických elementů bez nulovacích členů (jako např. počítačem generovaný hologram).

The utility example is a gauge for very accurate measurement of polished aspherical, spherical or plane surfaces form deviation from their nominal value. The gauge is an interferometer using multiple wavelengths. Therefore it is possible to increase the dynamic range of the measurement and thus the interferometer can be used even for aspherical surfaces measurement without null optics (e.g. computer generated hologram).
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267179