Počet záznamů: 1
Testbeam analysis suite for silicon sensors
- 1.0440382 - FZÚ 2015 RIV CZ eng L4 - Software
Kvasnička, Peter - Kodyš, Peter
Testbeam analysis suite for silicon sensors.
Interní kód: Testbeam analysis suite for silicon sensors ; 2014
Technické parametry: Software provádí výběr drah, jejich fitování, doladění poloh detektorů, eta korekci polohy a odhad přesnosti rekonstruované polohy dráhy pro křemíkové detektory na testovacích svazcích.
Ekonomické parametry: Produkt je výsledkem základního výzkumu a tudíž neočekáváme přímý zisk nebo úsporu.
Grant CEP: GA MŠMT 7E12050
GRANT EU: European Commission(XE) 262025 - AIDA
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: silicon detector * testbeam * eta correction * alignment * tracking * sensor resolution
Kód oboru RIV: BF - Elementární částice a fyzika vys. energií
http://www-ucjf.troja.mff.cuni.cz/~kodys/works/data_analysis/index.html
The software has been used for analysis of several DEPFET testbeams between 2008 and 2010 (pixel sensors), and also HEPHY testbeam in 2009 (CMS-like strip sensors). It has been used in IPNP, Charles University in Prague, and HEPHY, Vienna. It was presented at several international conferences. During the time, it has proved to be flexible enough to handle specific requirements of different testbeams and testbeam tasks.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0243505
Počet záznamů: 1