0436466 - FZÚ 2015 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Setvín, Martin - Hao, X. - Daniel, B. - Pavelec, J. - Novotný, Z. - Parkinson, G.S. - Schmid, M. - Kresse, G. - Franchini, C. - Diebold, U.
Charge trapping at the step edges of TiO₂ anatase (101).
Angewandte Chemie - International Edition. Roč. 53, č. 18 (2014), s. 4714-4716. ISSN 1433-7851. E-ISSN 1521-3773
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: trapping * STM * DFT
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 11.261, rok: 2014 ; AIS: 3.39, rok: 2014
DOI: https://doi.org/10.1002/anie.201309796

A combination of photoemission, atomic force, and scanning tunneling microscopy/spectroscopy measurements shows that excess electrons in the TiO2 anatase (101) surface are trapped at step edges.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240213