Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech

0427312 - FZÚ 2015 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Malachov, Martin - Jäger, Aleš
Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech.
[Electron back-scattered diffraction as a method for grain boundary analysis in polycrystalline materials.]
Sborník přednášek studentské vědecké konference JuveMatter 2013. Praha: České vysoké učení technické-nakladatelství ČVUT, 2013 - (Kunz, J.), s. 148-154. ISBN 978-80-01-05359-1.
[JuveMatter 2013. Horní Lomná (CZ), 09.05.2013-13.05.2013]
Grant CEP: GA ČR GBP108/12/G043
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: EBSD * crystalography * grain boundary
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

Rozvoj analytických technik řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) umožnil získat velmi přesné mikrostrukturní informace o krystalografii (EBSD) a chemickém složení (EDS) mnoha materiálů. Cílem prezentace je vysvětlit princip SEM-EBSD, demonstrovat jeho možnosti a nastínit jeho využití při analýze hranic zrn v polykrystalickém materiálu.

Current development of analytical techniques in scanning electron microscopy allowed us to obtain precise information about the crystallography and chemical composition of materials. Aim of this work is to explain electron back-scatter diffraction (EBSD) technique and its utilization in grain characterization of polycrystalline materials.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0232884