Určování velikosti krystalitů a mikronapětí z profilů difrakčních linií

0425581 - FZÚ 2014 CZ cze A - Abstrakt
Čerňanský, Marian
Určování velikosti krystalitů a mikronapětí z profilů difrakčních linií.
[Particle size and microstress estimation from the profiles of diffraction lines.]
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Czech and Slovak Crystallographic Association. Roč. 20, č. 2 (2013), s. 75-76. ISSN 1211-5894.
[Struktura 2013 - Kolokvium Krystalografické společnosti. 09.09.2013-13.09.2013, Češkovice (Blansko)]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
Klíčová slova: crystallite size * microstrain * line profile analysis * X-ray diffraction
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

Difrakční profily obsahují velmi důležité informace o mikrostruktuře polykrystalických materiálů, zejména o velikosti krystalitů a mikrodeformací resp. mikropnutí. Je podán přehled principů procedur na určení zmíněných veličin.

Diffraction profiles contain very important information concerning the microstructure of polycrystalline materials, namely about the crystallite size and microstrain or microstress. Principles of procedures for the estimation of these quantities arte reviewed.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0231414