Počet záznamů: 1
Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy
- 1.0353106 - ÚPT 2011 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk - Man, O. - Pantělejev, L. - Kouřil, M.
Mapping of the microscopic strain using scanning low energy electron microscopy.
Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě: Československá mikroskopická společnost, 2010 - (Frank, L.; Hozák, P.), s. 20. ISBN N.
[Mikroskopie 2010. Nové Město na Moravě (CZ), 17.02.2010-18.02.2010]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * SLEEM * UFG
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Detection of a strain in the microscopic scale is very important under multiple circumstances.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0006216
Počet záznamů: 1