Počet záznamů: 1
Noncontact Atomic Force Microscopy. Volume 2
- 1.0342573 - FZÚ 2011 RIV DE eng M - Část monografie knihy
Pou, P. - Jelínek, Pavel - Pérez, R.
Basic mechanisms for single atom manipulation in semiconductor systems with the FM-AFM.
Noncontact Atomic Force Microscopy. Volume 2. Berlin: Springer, 2009 - (Morita, S.; Giessibl, F.; Wiesendanger, R.), s. 227-248. Nanoscience and Technology. ISBN 978-3-642-01494-9
Grant CEP: GA ČR GA202/09/0775; GA AV ČR IAA100100905
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: AFM * DFT simulation * atomic manipulation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
This work unveils the atomic-scale mechanisms that are responsible for the room temperature manipulations of strongly bound atoms on semiconductor surfaces.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0185275
Počet záznamů: 1