Počet záznamů: 1
C-AFM and X-TEM: studies of mixed-phase silicon thin films
- 1.0341951 - FZÚ 2010 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Mates, Tomáš - Fejfar, Antonín - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan - Bronsveld, P.C.P. - Rath, J.K. - Schropp, R.E.I.
C-AFM and X-TEM: studies of mixed-phase silicon thin films.
[C-AFM a X-TEM: zkoumání heterostrukturních tenkých vrstev křemíku.]
G.I.T. Imaging and Microscopy. Roč. 10, č. 1 (2008), s. 30-32. ISSN 1439-4243
Grant CEP: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Klíčová slova: conductive atomic force microscopy * cross-sectional transmission electron microscopy * silicon thin films
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Thin intrinsic silicon films containing microcrystalline grains embedded in amorphous tissue were studied by two complementary microscopy techniques.
Tenké intrinsické vrstvy křemíku obsahující mikrokrystalická zrna zabudovaná do amorfní matrice byly studovány dvěma doplňujícími se mikroskopickými technikami.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0184790
Počet záznamů: 1