Correlation of atomic force microscopy detecting local conductivity and micro-Raman spectroscopy on polymer-fullerene composite films

0341949 - FZÚ 2010 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Čermák, Jan - Rezek, Bohuslav - Cimrová, Věra - Výprachtický, Drahomír - Ledinský, Martin - Mates, Tomáš - Fejfar, Antonín - Kočka, Jan
Correlation of atomic force microscopy detecting local conductivity and micro-Raman spectroscopy on polymer-fullerene composite films.
[Korelace měření mikroskopie atomárních sil detekující lokální vodivost s mapováním mikro-Ramanovského rozptylu na tenkých vrstvách směsi polymeru s fullerenem.]
Physica Status Solidi. Roč. 1, č. 5 (2007), s. 193-195. ISSN 1862-6254. E-ISSN 1862-6270
Grant CEP: GA MŽP(CZ) SN/3/172/05
Klíčová slova: atomic force microscopy (AFM) * composition and phase identification * photoconduction and photovoltaic effects * fullerens and related materials
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 0.000, rok: 2007

Prepared hetero-junction composite thin film of conductive polymer and fullerene is studied by several AFM techniques and micro-Raman mapping. The influence of microscopic morphologic and electronic properties on macroscopic behavior is discussed

Připravená tenká vrstva kompozitní heterostruktury z vodivého polymeru a fullerenu je studována několika AFM metodami a mapovánim mikro-Ramanovskeho rozptylu. Studuje se vliv mikroskopických morfologických a elektronických vlastností vrstvy na její makroskopické chování
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0184788