Multiscale semicontinuous thin film descriptors

0330314 - ÚTIA 2010 RIV PL eng J - Článek v odborném periodiku
Boldyš, Jiří - Hrach, R.
Multiscale semicontinuous thin film descriptors.
[Multiškálové příznaky pro popis polospojitých tenkých vrstev.]
Central European Journal of Physics. Roč. 2, č. 4 (2004), s. 645-659. ISSN 1895-1082
Grant ostatní: GA UK(CZ) 173/2003
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1075907
Klíčová slova: semicontinuous thin films * wavelet transform * segmentation * skeleton * graph representation
Kód oboru RIV: BD - Teorie informace
http://library.utia.cas.cz/separaty/2009/ZOI/boldys-multiscale semicontinuous thin film descriptors.pdf

In experimental thin film physics, there is a demand to characterize a growing thin film or a thin film as an experimental result. While methods for discontinuous, island-like thin films have been developed, there is a lack of results directly applicable to semicontinuous thin film description. In this contribution, a unique combination of image processing methods has been collected and further developed, which resulted in a novel set of semicontinuous thin film descriptors. In particular, the shape of the thin film contours and the thin film image intensity profiles have been analyzed in a multiscale manner. Descriptiveness of the proposed features is demonstrated on a few real experiment thin film photographs. This work has established a basis for further measurement, description, simulation or other processing in physics of semicontinuous thin films, using any direct imaging modality.

V experimentální fyzice tenkých vrstev je potřeba popsat rostoucí tenkou vrstvu nebo tenkou vrstvu jako výsledek experimentu. Zatímco pro nespojité tenké vrstvy ostrůvkového typu metody existují, chybí metody použitelné na polospojité tenké vrstvy. V tomto příspěvku byly použity a dále rozvinuty metody zpracování obrazu a vznikly nové příznaky popisující polospojité tenké vrstvy. Konkrétně jsou zde analyzovány tvary kontur tenkých vrstev a profily intenzit jejich obrazů, a to na více škálách. Popisnost příznaků je demonstrována na několika fotografiích tenkých vrstev z reálného experimentu. Tato práce položila základy k měření, popisu, simulaci a dalšímu zpracování polospojitých tenkých vrstev, s použitím jakékoli přímé modality zobrazování.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0176134