Počet záznamů: 1  

Optical gradient of the trapezium-shaped NaNbO.sub.3./sub. thin films studied by spectroscopic ellipsometry

  1. 1.
    0324122 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Aulika, I. - Deyneka, Alexander - Zauls, V. - Kundzins, K.
    Optical gradient of the trapezium-shaped NaNbO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry.
    [Optický gradient trapeciálních tenkých vrstev NaNbO3 zkoumaných pomocí spektroskopické elipsometrie.]
    Journal of the Electrochemical Society. Roč. 155, č. 10 (2008), G209-G213. ISSN 0013-4651. E-ISSN 1945-7111
    Grant CEP: GA AV ČR KJB100100703; GA ČR GA202/08/1009
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
    Klíčová slova: thin films * ellipsometry * optical gradient
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 2.437, rok: 2008

    Ellipsometric studies of the optical gradient of NaNbO3 thin films were performed in the photon energy range of 1.24–4.96 eV. Effective values of the complex refractive index and thickness nonuniformity, roughness, and depth profile of the real part of the refractive index were evaluated. An increase of the refractive index with increasing of the sample thickness was observed and discussed.

    Elipsometrický výzkum optického gradientu tenkých vrstev NaNbO3 byl prováděn ve spektrální oblasti 1.24–4.96 eV. Efektivní hodnoty komplexního indexu lomu a nehomogenita vrstvy byly vypočítány za použití speciálně vyvinutého gradientního modelu. Zvětšení indexu lomu při zvýšení tloušťky vrstev bylo objeveno a objasněno.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0171903

     
     
Počet záznamů: 1