Počet záznamů: 1
Single-line diffraction profile analysis method used for evaluation of microstructural parameters in the plain straining
- 1.0321980 - ÚJF 2009 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Davydov, Vadim - Lukáš, Petr - Strunz, Pavel - Kužel, R.
Single-line diffraction profile analysis method used for evaluation of microstructural parameters in the plain straining.
[Metoda jednolinkové difrakční profilové analýzy užitá pro vyhodnocení mikrostrukturních parametrů při rovinném napínání.]
STRESS EVALUATION IN MATERIALS USING NEUTRONS AND SYNCHROTRON RADIATION. ZURICH: TRANS TECH PUBLICATIONS LTD, LAUBLSRUTISTR 24, 2008, s. 181-188. ISSN 0255-5476.
[4th International Conference on Stress Evaluation using Neutrons and Synchrotron Radiation. Vienna (AU), 24.08.2007-26.08.2007]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505
Klíčová slova: in situ neutron diffraction * tensile deformation test * microstructural parameters
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Single-line diffraction profile analysis method used for evaluation of microstructural parameters in the plain straining is presented.
Je prezentována metoda jednolinkové difrakční profilové analýzy užitá pro vyhodnocení mikrostrukturních parametrů při rovinném napínání.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0170367
Počet záznamů: 1