Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami

0320868 - FZÚ 2009 RIV CZ cze C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Čermák, Jan - Rezek, Bohuslav - Cimrová, Věra - Hörhold, H. H. - Ledinský, Martin - Fejfar, Antonín
Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami.
[Characterization of structural and electronic properties of organic heterostructures by scanning probe techniques.]
Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference. Rožnov pod Radhoštěm: Czech RE Agency, 2008, s. 31-33. ISBN 978-80-254-3528-1.
[Česká fotovoltaická konference /3./. Brno (CZ), 03.11.2008-05.11.2008]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510; GA ČR(CZ) GD202/05/H003
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521; CEZ:AV0Z40500505
Klíčová slova: AFM * KFM * Raman scattering * organic semiconductors * photovoltaics
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

Studium strukturních, elektrických a optoelektronických heterostruktur pomocí AFM, KFM, CS-AFM a mapování mikro-Ramanova rozptylu.

Study of morphologic, electronic and optoelectronic properties of organic heterostructures by AFM, KFM, CS-AFM and micro-Raman mapping.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0169605