Mid-Infrared optical response of heavily doped GaSb:Te (9th International Conference on Mid-Infrared Optoelectronics: Materials and Devices - MIOMD-IX, 7.- 11.9.2008, Freiburg, Germany).

0317931 - FZÚ 2009 RIV DE eng O - Ostatní výsledky
Humlíček, J. - Navrátil, K. - Hulicius, Eduard - Vyskočil, Jan - Šimeček, Tomislav - Kashani, K. - Amann, M.
Mid-Infrared optical response of heavily doped GaSb:Te (9th International Conference on Mid-Infrared Optoelectronics: Materials and Devices - MIOMD-IX, 7.- 11.9.2008, Freiburg, Germany).
[Optická odezva vysoce dotovaného GaSb:Te (9. Mezinárodní konference o optoelektronice ve střední infračervené oblasti: materiály a součástky - MIOMD-IX, 7.- 11.9.2008, Freiburg, Německo).]
2008
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: GaSb * MIR * ellipsometry
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

We report here the results of transmittance, reflectance, and ellipsometric measurements of mid-infrared optical spectra (MIR) on tellurium doped GaSb samples prepared by MBE at the Walter Schottky Institute.

Tato práce pojednává o výsledcích měření optického spektra pomocí transmitance, reflektance a elipsometrie vzorků GaSb připravených pomocí technologie MBE ve Walter Schottky Institutu.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0167442