Počet záznamů: 1
Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy
- 1.0316218 - FZÚ 2009 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Sugimoto, Y. - Pou, P. - Custance, Ó. - Jelínek, Pavel - Abe, M. - Perez, R. - Morita, S.
Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy.
[Komplexní vzorkování pomocí vertikální výměnné manipulace atomu pomocí mikroskopu atomárních sil.]
Science. Roč. 322, č. 5900 (2008), 413-417. ISSN 0036-8075. E-ISSN 1095-9203
Grant CEP: GA AV ČR IAA1010413
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: AFM * atomic manipulation * DFT simulation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 28.103, rok: 2008
Here, we report the assembling of complex atomic patterns at room temperature by the vertical interchange of atoms between the tip apex of an atomic force microscope and a semiconductor surface.
V práci prezentujeme vytvoření komplexního atomárního vzorku při pokojové teplotě pomocí vertikální záměny atomu mezi hrotem mikroskopu a polovodičovým povrchem.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0166209
Počet záznamů: 1