Detection of Signal Electrons by Segmental Ionization Detector

0315089 - ÚPT 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Černoch, P. - Jirák, Josef
Detection of Signal Electrons by Segmental Ionization Detector.
[Detection of Signal Electrons by Segmental Ionization Detector.]
EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. Berlin: Springer, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Weirich, T.), s. 537-538. ISBN 978-3-540-85154-7.
[EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650602
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: segmental ionization detector * side detection
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

The article deals with detection of segmental ionization detector (SID) at which voltages on the SID electrodes and positions of detection electrodes towards a scanned area on a specimen surface manifest itself by changes of shadow and diffusion contrasts in obtained specimen images. At this detection technique, the SID enables to accomplish similar results as it is possible by scintillation and semiconductor detectors positioned on the side toward the specimen.

Článek se zabývá detekcí segmentovým ionizačním detektorem (SID), při které se projevuje napětí na elektrodách SID a pozice detekčních elektrod vzhledem k rastrované oblasti na povrchu vzorku změnami hranového a stínového kontrastu v získaných snímkách. Při této metodě detekce SID umožňuje dosáhnout podobných výsledků jako je možné s využitím scintilačních a polovodičových detektorů umístěných ze strany vzorku.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0004860