Morphological characterization of particles with very broad size distributions using program MDIST

0312280 - ÚMCH 2009 RIV DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šlouf, Miroslav - Lapčíková, Monika - Vlková, Helena - Pavlova, Ewa - Hromádková, Jiřina
Morphological characterization of particles with very broad size distributions using program MDIST.
[Morfologická analýza částic s velmi širokou distribucí velikostí pomocí programu MDIST.]
Proceedings of the 14th European Microscopy Congress EMC 2008. Berlin: Springer Verlag Berlin Heidelberg, 2008 - (Luysberg, M.; Tillmann, K.; Werich, T.), s. 777-778. Instrumentation and Methods, Volume 1. ISBN 978-3-540-85154-7.
[European Microscopy Congress EMC 2008 /14./. Aachen (DE), 01.09.2008-05.09.2008]
Grant CEP: GA MŠMT 2B06096; GA MPO FT-TA3/110
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40500505
Klíčová slova: electron microscopy * image analysis * polyethylene and polystyrene
Kód oboru RIV: CD - Makromolekulární chemie

Many polymer systems contain matrix filled with particles with very broad size distributions. Such systems are, for instance, high-impact polystyrene or ultra-high molecular weight polyethylene wear particles. Morphological analysis of particles in these systems requires special treatment. This is due to the fact that the smallest and the biggest particles cannot be observed at the same magnification. We show that analysis of both low- and high-magnification micrographs with our own software MDIST yields the correct distribution of sizes and other morphological parameters.

Mnoho polymerních systémů sestává z matrice naplněné částicemi s velkou distribucí velikostí. Takovými systémy jsou například houževnatý polystyren nebo otěrové částice vysokomolekulárního polyethylenu. Morfologická analýza částic v těchto systémech musí být provedena speciálním způsobem, což je způsobeno skutečností, že nejmenší a největší částice nelze pozorovat současně při jediném zvětšení. V tomto příspěvku ukazujeme, jak získat korektní distribuce velikostí a dalších morfologických parametrů pomocí současné analýzy mikrofotografií s vysokým a nízkým zvětšením v kombinaci s naším vlastním programem MDIST.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0163383