Detekce sekundárních elektronů v REM

0308436 - ÚPT 2008 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Wandrol, P. - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
Detekce sekundárních elektronů v REM.
[Detection of secondary electrons in SEM.]
Mikroskopie 2008. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2008 - (Frank, L.), s. 32. ISBN N.
[Mikroskopie 2008. Nové Město na Moravě (CZ), 07.02.2008-08.02.2008]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: detection systems * secondary electrons * SEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

Tři systémy detektorů sekundárních elektronů byly simulovány za účelem zjištění, která část emitovaných sekundárních elektronů je detekována.

The three detection systems of secondary electrons were simulated in order to determine which part of the emitted SEs is collected.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160920