Počet záznamů: 1
Detection of backscattered electrons in environmental scanning electron microscope
- 1.0205094 - UPT-D 980072 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Autrata, Rudolf - Jirák, J. - Klvač, M. - Špinka, J.
Detection of backscattered electrons in environmental scanning electron microscope.
Journal of Computer Assisted Microscopy. Roč. 9, č. 2 (1997), s. 113-114. ISSN 1040-7286.
[MCEM '97 /3./ - Multinational Congress on Electron Microscopy. Portorož, 05.10.1997-08.10.1997]
Grant CEP: GA ČR GA102/97/0988
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100714
Počet záznamů: 1