0204994 - UPT-D 980025 RIV MX eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Zadražil, Martin - Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
Noncharging scanning electron microscopy of non-conductors at automatically adjusted critical energies.
Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy. Bristol: Institute of Physics Publishing Ltd., 1998 - (Benavides, H.; Yacamán, M.), s. 457-458. ISBN 0-7503-0568-1.
[ICEM /14./ - International Congress on Electron Microscopy. Cancun (MX), 31.08.1998-04.09.1998]
Grant CEP: GA ČR GA202/96/0961
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0100614