Počet záznamů: 1
Iontové, sondové a speciální metody
- 1.0181500 - UFCH-W 20020238 RIV CZ cze M - Část monografie knihy
Lörinčík, Jan - Bastl, Zdeněk - Šroubek, Zdeněk
Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS).
[Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS).]
80-200-0594-3. In: Iontové, sondové a speciální metody. Praha: Academia, 2002 - (Frank, L.; Král, J.), s. 147-201. Metody analýzy povrchů.
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z4040901
Klíčová slova: mass spectrometry * SIMS
Kód oboru RIV: CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
Kapitola je věnována hmotnostní spektroskopii sekundárních iontů (SIMS). Jsou diskutovány všechny aspekty metody, zahrnující iontové rozprašování, tvorba sekundárních iontů včetně relevantních teorií, instrumentace, kvantitativní analýza a aplikace metody.
The chapter is devoted to all aspects of secondary ion mass spectrometry (SIMS). It covers ion sputtering, production of secondary ions and relevant theories, instrumentation, quantification and applications.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0078062
Počet záznamů: 1