0133739 - FZU-D 20020120 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Poruba, Aleš - Vaněček, Milan - Meier, J. - Shah, A.
Fourier transform infrared photocurrent spectroscopy in microcrystralline silicon.
Journal of Non-Crystalline Solids. 299-302, - (2002), s. 536-540. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
GRANT EU: European Commission(XE) ENK6-CT-2000-00321 - DOIT
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010914
Klíčová slova: microcrystalline silicon * photocurrent spectroscopy * optical absorption
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.435, rok: 2002

A fast and sensitive method for measurement of spectral dependence of the optical absorption coefficint ŕ(E) in thin films of photosensitive materials is introduced.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031700