0132403 - FZU-D 990353 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Gedeon, O. - Hulínský, V. - Jurek, Karel
X-ray microanalysis of light and stratified samples, possibilities and limitations.
Ceramics - Silikáty. Roč. 43, č. 2 (1999), s. 41-47. ISSN 0862-5468. E-ISSN 1804-5847
Grant CEP: GA ČR GA104/93/2150
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 0.208, rok: 1999
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0000563