0132393 - FZU-D 990341 RIV DK eng J - Článek v odborném periodiku
Schmidt, T. - Slezák, Jiří - Heun, S. - Diaz, J. - Blyth, R. R. - Delaunay, R. - Cocco, D. - Prince, K. C. - Bauer, E. - Coreno, M.
Optical layout of a beamline for photoemission microscopy.
Journal of Synchrotron Radiation. Roč. 6, - (1999), s. 957-963. ISSN 0909-0495. E-ISSN 1600-5775
Grant ostatní: ERBFMBICT(XE) 961749
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.114, rok: 1999
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0030420