Počet záznamů: 1
Advances in SEM Methodology and Instrumentation
- 1.0109067 - UPT-D 20040070 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Frank, Luděk
Advances in SEM Methodology and Instrumentation.
[Pokroky v metodologii a instrumentaci pro rastrovací elektronovou mikroskopii.]
Proceedings of the 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. Kanazawa: 8APEM Publication Committee, 2004, s. 40-41. ISBN 4-9902106-0-3.
[APEM /8./ Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. Kanazawa (JP), 07.06.2004-11.06.2004]
Grant CEP: GA ČR GA202/04/0281
Klíčová slova: SEM * methodology * instrumentation
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
The present status in development of methodology and instrumentation for the scanning electron microscopy is briefly reviewed
Je podán stručný přehled současného stavu vývoje metodologie a přístrojové techniky pro rastrovací elektronovou mikroskopii
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016179
Počet záznamů: 1