Optimization of scintillation detector for SEM

0109033 - UPT-D 20040034 RIV BE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Schauer, Petr - Autrata, Rudolf
Optimization of scintillation detector for SEM.
[Optimalizace scintilačního detektoru pro SEM.]
EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress. Vol. 1. Liege: Belgian Society for Microscopy, 2004, s. 69-70.
[EMC 2004 /13./ European Microscopy Congress. Antwerp (BE), 22.08.2004-27.08.2004]
Grant CEP: GA ČR GA102/04/2144
Klíčová slova: SEM detector * scintillator * light-guide
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

Detective quantum efficiency (DQE) is the best quantity for characterisation of the detector quality. Unfortunately, low DQE of a poor detector gives nearly no information about the limiting component. To enhance the bad scintillation detector, one has to divide its performance into particular events. Electron collection, photon generation, escape from scintillator, coupling to light-guide, losses in light-guide, photoelectron generation, as well as collection and multiplication in a photomultiplier tube (PMT) are the most significant events in the scintillation detector for SEM. To analyse these events and optimise the detector, a lot of important quantities of detector components (such as conversion efficiency, decay time, intrinsic noise and optical reflectivity, transmittance and matching) must be known. Thereafter, properties of each component can be calculated from individual quantities, and properties of the whole detector can be determined using a convolution

Detekční kvantová účinnost (DQE) je nejlepší veličina pro posouzení kvality detektoru. Bohužel, nízká hodnota DQE špatného detektoru nedává téměř žádnou informaci o jeho omezujících součástech. Pro zlepšení špatného scintilačního detektoru je třeba rozložit jeho činnost na jednotlivé události. K nejvýznamnějším událostem ve scintilačním detektoru pro SEM patří sběr elektronů, generace fotonů, výstup ze scintilátoru, navázání do světlovodu, ztráty ve světlovodu, generace fotoelektronů i jejich sběr a násobení ve fotoelektrickém násobiči (PMT). Aby bylo možné analyzovat uvedené události a optimalizovat detektor, musí být známy mnohé veličyny součástí detektoru (jako například účinnost konverze, doba doznívání, vlastní šum a optická odrazivost, propustnost a přizpůsobení). Potom mohou být z jednotlivých veličin vypočítány vlastnosti každé součásti a uplatněním konvoluce následně stanoveny vlastnosti celého detektoru
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0016145