Applications of the scanning low energy electron microscopy in materials science

0094360 - ÚPT 2008 RIV JP eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Müllerová, Ilona
Applications of the scanning low energy electron microscopy in materials science.
[Použití rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie v materiálových vědách.]
Proceedings of 2007 Japan-China-Australia Cooperative Symposium on Materials Science and Nanotechnology. Toyama: IKENO Laboratory, University of Toyama, 2007 - (Nishimura, K.; Matsuda, K.), s. 11-12. ISBN 978-4-9903248-1-0.
[Japan-China-Australia Cooperative Symposium on Materials Science and Nanotechnology 2007. Toyama (JP), 14.11.2007-17.11.2007]
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: low energies * contrast formation * multi-channel detection
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

Survey is provided as regards applications of the low energy scanning electron microscopy in several branches of materials science. Main contrast mechanisms are characterized and results of demonstration experiments presented including those of the multichannel signal detection.

Je předložen přehled aplikací nízkoenergiové rastrovací elektronové mikroskopie v několika oblastech materiálových věd. Jsou charakterizovány hlavní kontrastní mechanismy a prezentovány výsledky demonstračních experimentů včetně výsledků získaných mnohakanálovou detekcí signálu.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0154187